GBT 5170.18-2022 環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第18部分：溫度濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備.pdf

GB/T 5170.18-2022環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法 第18部分∶溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備

1  范圍

本文件規(guī)定了溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)設(shè)備（以下簡(jiǎn)稱“設(shè)備”）的檢驗(yàn)項(xiàng)目、檢驗(yàn)用儀器及要求、檢驗(yàn)負(fù)載、檢驗(yàn)條件、檢驗(yàn)方法、檢驗(yàn)結(jié)果、檢驗(yàn)周期。

本文件適用于GB/T 2423.34—2012一箱法試驗(yàn)所用試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。當(dāng)采用兩箱法試驗(yàn)時(shí)，所用濕熱與低溫試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)分別按本文件第8章的規(guī)定進(jìn)行。

本文件也適用于類似試驗(yàn)設(shè)備的檢驗(yàn)。

2  規(guī)范性引用文件

下列文件中的內(nèi)容通過文中的規(guī)范性引用而構(gòu)成本文件不可少的條款。其中，注日期的引用文件，僅該日期對(duì)應(yīng)的版本適用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改單）適用于本文件。

GB/T 2423.34—2012 環(huán)境試驗(yàn)  第2部分∶試驗(yàn)方法  試驗(yàn)Z/AD∶溫度/濕度組合循環(huán)試驗(yàn)

GB/T 5170.1  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法  第1部分∶總則